點(diǎn)腐蝕試驗(yàn) ASTM G48 method A

點(diǎn)腐蝕試驗(yàn)，主要檢測(cè)產(chǎn)品的耐點(diǎn)腐蝕性能，適用于各種金屬和合金。

點(diǎn)腐蝕又稱小孔腐蝕，是一種腐蝕集中在金屬表面很小范圍內(nèi)并深入到金屬內(nèi)部甚至穿孔的孔蝕形態(tài)。具有自鈍化特性的金屬，如不銹鋼、鋁和鋁合金等在含氯離子的介質(zhì)中，經(jīng)常發(fā)生點(diǎn)蝕。在許多含氯離子的介質(zhì)中碳鋼也會(huì)出現(xiàn)點(diǎn)蝕現(xiàn)象。

點(diǎn)蝕產(chǎn)生的主要特征有下列三個(gè)方面：

(1)點(diǎn)蝕多發(fā)生于表面生成鈍化膜的金屬或表面有陰極性鍍層的金屬上(如碳鋼表面鍍錫、銅、鎳)。當(dāng)這些膜上某些點(diǎn)上發(fā)生破壞，破壞區(qū)域下的金屬基體與膜未破壞區(qū)域形成活化——鈍化腐蝕電池，鈍化表面為陰極而且面積比活化區(qū)大很多，腐蝕向深處發(fā)展形成小孔。

(2)點(diǎn)蝕發(fā)生在含有特殊離子的介質(zhì)中，如不銹鋼對(duì)鹵素離子特別敏感，其作用順序?yàn)镃l->Br->I-。

(3)點(diǎn)蝕通常在某一臨界電位以上發(fā)生，該電位稱作點(diǎn)蝕電位或擊破電位，又在某一電位以下停止，而這一電位稱作保護(hù)電位或再鈍化電位。當(dāng)電位大于點(diǎn)蝕電位時(shí)，點(diǎn)蝕迅速發(fā)生、發(fā)展;電位在點(diǎn)蝕電位與保護(hù)電位之間時(shí)，已發(fā)生的點(diǎn)蝕繼續(xù)發(fā)展，但不產(chǎn)生新的蝕孔;電位在保護(hù)電位以下時(shí)，點(diǎn)蝕不發(fā)生，即不會(huì)產(chǎn)生新的孔蝕，已有的蝕孔將被鈍化不再發(fā)展。

點(diǎn)腐蝕試驗(yàn)方法及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

不銹鋼點(diǎn)蝕電位測(cè)量方法 ASTM G48 method A 不銹鋼三氯化鐵點(diǎn)腐蝕試驗(yàn)方法

GB/T 17897 不銹鋼的氯化鐵腐蝕試驗(yàn)方法 JIS G 0578-2000